Fizikai mérési módszerek ( ff1c1f02 ) - vizsgatételek


1.    Alap- és származtatott mennyiségek, etalonok, mértékrendszerek
2.    Az SI rendszer szerkezete, mértékegységi, használatának szabályai
3.    Fizikai mennyiségek, mértékegységek, dimenzió analízis, metrológia
4.    Töltött-részecske források (líneáris gyorsítók, ciklotron, szinkroton)
5.    Röntgen források (hagyományos röntgen cső, szinkroton sugárzás)
6.    Neutron források (a neutron tulajdonságai, hasadási reaktor, spallációs források)
7.    Detektorok I. (gáztöltésű és szilárdtest detektorok), jelfeldolgozás
8.    Detektorok II. (képalkotó detektorok)
9.    Diffrakciós módszerek I. (Kinematikus elmélet, az anyag jellemzése, Bragg–feltétel)
10.    Diffrakciós módszerek II. (Ewald–szerkesztés, az amplitúdó felbontása: szerkezeti tényező, atomi formafaktor)
11.    Egy- és polikristály diffrakciós módszerek (forgókristályos, Laue- és pordiffrakció), csúcsalak információk
12.    A röntgen-, neutron-, elektron-diffrakció sajátosságai, összehasonlítása
13.    Optikai mikroszkópia (Abbe leképezési elmélet, lencsehibák, lencse jellemzők)
14.    Mikroszkópok (fém-, fluoreszcencia, fáziskontraszt és konfokális lézer mikroszkóp)
15.    Transzmissziós elektronmikroszkópia (TEM)
16.    Pásztázó elektronmikroszkópia (SEM)
17.    Pásztázószondás mikroszkópok: STM, AFM, SNOM
18.    A spektroszkópia általános jellemzése (prizma, rács és Fabry–Perot interferométer)
19.    Michelson-interferométer, Fourier–transzformációs spektroszkópia
20.    Infravörös és Raman spektroszkópia
21.    Röntgen spektroszkópiák (fotóelektron /XPS/, emissziós /XES/ és abszorpciós /XAS, XANES/)


Utolsó módosítás: 2016. 12. 06.